Espectroscopia de rayos X



 

La espectroscopia de rayos X es un nombre genérico que abarca todas aquellas técnicas espectroscópicas utilizadas para determinar la estructura electrónica de los materiales mediante excitación por rayos X. La espectroscopia de rayos X tiene una amplia gama de aplicaciones, en especial en la determinación de estructuras cristalinas y muestras sólidas.

Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética con una energía muy superior a la radiación ultravioleta que permite su absorción por los electrones de core. Los rayos X son especialmente capaces de penetrar estructuras cristalinas: su longitud de onda, de un orden de magnitud igual al de las distancias interatómicas, hace que se difracten, produciendo los patrones de difracción del cristal.

Técnicas espectroscópicas de rayos X

La absorción, difracción, emisión, fluorescencia y dispersión de los rayos X se utiliza en muchas técnicas espectroscópicas que nos aportan información sobre la estructura y la composición de la materia:

  1. La difracción de rayos X en materiales cristalinos se utiliza para obtener su estructura cristalina
  2. La fluorescencia de rayos X nos aporta información sobre la superficie de la muestra
  3. Emisión electrónica Auger

Véase también

Enlaces externos

  • The Science of Spectroscopy
  • X-rayMicroanalysis.com
 
Este articulo se basa en el articulo Espectroscopia_de_rayos_X publicado en la enciclopedia libre de Wikipedia. El contenido está disponible bajo los términos de la Licencia de GNU Free Documentation License. Véase también en Wikipedia para obtener una lista de autores.
Su navegador no está actualizado. Microsoft Internet Explorer 6.0 no es compatible con algunas de las funciones de Chemie.DE.