Sistema XPS con técnicas integradas-Sistema XPS Nexsa

Sistema compacto y plenamente automatizado, alto rendimiento y resultados para categoría de investigación

El sistema XPS Thermo Scientific™ Nexsa™ XPS ofrece un análisis con técnicas múltiples plenamente automatizado junto con un alto rendimiento, sin que esto suponga sacrificar unos resultados con categoría de investigación. La integración de técnicas analíticas múltiples, como ISS, UPS, REELS y Raman, les permite a los usuarios realizar análisis realmente correlativos, desplegar el potencial necesario para realizar nuevos progresos en el ámbito de la microelectrónica, los films finos, el desarrollo nanotecnológico y muchas otras aplicaciones.


Análisis y desarrollo de materiales

El espectrómetro Nexsa ofrece flexibilidad a la hora de maximizar el potencial de su material. Flexibilidad en forma de opciones de técnicas integradas múltiples para un análisis de los datos realmente correlativo y un alto rendimiento a la vez que se mantienen unos resultados de calidad en la investigación.

 Características del producto:

  • Análisis de aislantes
  • Espectroscopia de alto rendimiento
  • Perfilado de profundidad
  • Integración de técnicas múltiples
  • Fuente de iones de modo dual para unas capacidades ampliadas de perfilado de profundidad
  • Módulo inclinable para mediciones ARXPS
  • Software Avantage para el control de los instrumentos, el procesamiento de los datos y la elaboración de informes
  • Análisis puntual

Aplicaciones:

  • Revestimientos de cristal
  • Polímeros
  • Pilas
  • Grafeno
  • Celdas solares
  • OLED
  • Metales y óxidos
  • Biosuperficies
  • Films finos
  • Semiconductores
  • Cerámica
  • Catalizadores
  • Nanomateriales

Ampliaciones opcionales:

  • RAMAN: técnica espectroscópica usada en química para proporcionar una huella estructural
  • ISS: la espectroscopia de dispersión de iones es una técnica donde un haz de iones es dispersado por una superficie
  • UPS: la espectroscopia de fotoelectrones excitados por ultravioleta se refiere a la medición de espectros de energía cinética de fotoelectrones emitidos por moléculas que han absorbido fotones ultravioletas, a fin de determinar las energías orbitales moleculares en la región de valencia
  • REELS: la espectroscopia de pérdida de energía de electrones reflejados proporciona información sobre la estructura electrónica y es capaz de medir la presencia de hidrógeno

Función SnapMap

Ponga en el foco de atención características de las muestras con la vista óptica SnapMap. La vista óptica le ayuda a precisar áreas de interés rápidamente mientras se desarrolla una imagen XPS plenamente focalizada para seguir definiendo su experimento.

1. Rayos X iluminan una pequeña área de la muestra.

2. Se recopilan fotoelectrones de esta pequeña área y se focalizan en el analizador

3. Se adquieren continuamente espectros conforme se mueve la escena

4. Se monitoriza la posición de la escena a lo largo de la adquisición de los datos, y las posiciones se usan para generar SnapMap 

Solicite información ahora o descargue el folleto PDF.


Temas:
  • espectrometría de fotoelectrones de rayos X
  • espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • espectrofotómetros
  • Análisis de aislador
  • espectroscopia
  • análisis de materiales
  • espectroscopia Raman
  • espectroscopia de dispersión de iones
  • espectroscopia de fotoelectrones excitados por ultravioleta
  • espectroscopia de pérdida de energía de electrones reflejados
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