Combinación Única de Microscopía Raman-AFM Automatizada para Inspección Superficial e Imágenes Químicas en 3-D

WITec presenta las series de microscopios alpha500 y alpha700. Estos microscopios son los primeros en obtener de manera automatizada imágenes Raman Confocal y Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) en muestras de gran tamaño.

La Microscopía Raman Confocal obtiene imágenes con sensibilidad química tridimensional y el AFM adquiere imágenes topográficas de alta resolución. El análisis automatizado de muestras acelera significativamente los ciclos de medición en experimentos secuenciales, garantizando una rápida resolución de problemas y una recuperación eficiente de la inversión.

Una mesa motorizada, con un rango de barrido de 150x100 mm para el alpha500 y 350x300 mm para el alpha700, permite medir múltiples áreas/puntos o realizar barridos para una visión global, sobre un número de puntos definidas por el usuario.

La serie de microscopios posee funciones automatizadas integradas, tales como auto-focus y aproximación automática de la punta de AFM a la superficie de la muestra. Estas funciones garantizan la estandarización en procesos de medición rutinaria o que secuencias manualmente definidas puedan ser realizadas sin supervisión permanente de un operador.

Los instrumentos reducen significativamente la duración total de los experimentos y genera una mayor cantidad de datos en un tiempo determinado. Esta es una gran ventaja para investigaciones rutinarias con recursos limitados o procesos de control de calidad de alto nivel, proveyendo resultados o publicaciones más rápidamente.

Adquisición de imágenes envolviendo procesos sistemáticos y operaciones secuenciales, además de la medición de muestras de gran tamaño, son ventajas del nuevo diseño automatizado de los alpha500 y alpha700.

Inspección de wafer de silicio, estudios farmacéuticos, estandarización de recubrimientos y análisis de películas delgadas junto con estudios forenses o tejidos humanos son algunos de los ejemplos de una gran variedad de aplicaciones.

En el modo de adquisición de imágenes Raman, un espectro completo es adquirido en tiempos tan cortos como 760 microsegundos en cada pixel de la imagen (Ultra Fast Imaging). De esta manera, imágenes compuestas de decenas de miles de espectros Raman son generadas en menos de un minuto. Diferencias en la composición química son evidentes en las imágenes Raman y pueden ser analizadas con una resolución de hasta 200 nm.

Simplemente rotando la rueda de objetivos del microscopio, el sistema permite medir en AFM, en todos los modos estándar de microscopía de fuerza atómica y garantizando una alta flexibilidad a través del rango completo de aplicaciones en AFM.