Orden en el desorden: se han descubierto fluctuaciones de densidad en el silicio amorfo
Un nuevo estudio muestra que se forman tres fases diferentes dentro de la matriz amorfa, lo que influye en la calidad y la vida útil de la capa de semiconductores
02.11.2020 -
Por primera vez, un equipo del HZB ha identificado la subestructura atómica del silicio amorfo con una resolución de 0,8 nanómetros utilizando rayos X y dispersión de neutrones en BESSY II y BER II. Tales películas delgadas de a-Si:H se han usado durante décadas en células solares, pantallas TFT ...
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