Exclusiva caracterización de defectos basada en topografía de rayos X para obleas de SiC galardonada con el premio a la innovación Georg Waeber 2023
02.11.2023 -
Un equipo interinstitucional de Rigaku SE y Fraunhofer IISB ha establecido un nuevo método de caracterización de materiales semiconductores en el Centro de Experiencia en Topografía de Rayos X que gestionan conjuntamente en Erlangen, Alemania. No sólo han conseguido desarrollar un sistema de ...
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