Microanálisis por rayos X, resultados con total fiabilidad

Manejo integrado de espectrometría de rayos X por dispersión de energía (EDS), de longitudes de onda (WDS) y difracción de electrones por retrodispersión (EBSD)

Proporcionando una mayor resolución en energía y en detección de elementos ligeros, el sistema de microanálisis por rayos X Pathfinder integra una electrónica avanzada, la resolución EDS con mayor nitidez y una cartografía de fases basada en datos espectrales mediante el análisis de los componentes principales.

  • Espectroscopia de rayos X WDS completamente integrada y difracción de electrones por retrodispersión
  • Modelos de datos de imágenes espectrales
  • Cartografía de fases fiable basada en datos espectrales mediante el análisis de componentes principales con nuestro software patentado* Thermo Scientific™ COMPASS™
  • Electrónica ultrarápida y cancelación activa de ruidos para una mayor calidad espectral
  • Gama completa de detectores EDS con el mayor ángulo sólido posible
  • Nuevo detector compacto EDS de estado sólido con un excelente rendimiento EDS y un diseño de reducido tamaño
  • Mapas de elementos más limpios, brillantes y precisos en SEM/TEM con cartografía cuantitativa

* COMPASS - patente estadounidense US6584413"

Aplicaciones
Temas
  • Thermo Scientific

  • espectrómetros de fluorescencia de rayos X

  • espectrómetros de rayos X

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