NEX DE VS

El Rigaku NEX DE VS es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (EDXRF) de excitación directa y alto rendimiento que proporciona un análisis elemental cualitativo y cuantitativo rápido y no destructivo de sodio (Na) a uranio (U) con capacidades de análisis de puntos pequeños. NEX DE VS sirve para una amplia gama de aplicaciones e industrias y es una herramienta ideal para medir niveles bajos de ppm hasta concentraciones de alto porcentaje en peso. Es idóneo para aplicaciones de exploración, investigación, inspección RoHS a granel, educación, medicina forense y monitorización industrial y de producción.

NEX DE VS ofrece resultados de alto rendimiento cuando el tiempo de análisis o el rendimiento de la muestra son críticos. Cuenta con un tubo de rayos X de 60 kV y 12 W, filtros de tubo monocapa y multicapa, y un detector de deriva de silicio (SDD) de alto rendimiento que admite tasas de recuento superiores a 500.000 cps. Las altas tasas de recuento proporcionan bajos límites de detección y una excelente resolución espectral, y se obtienen mediciones de alto rendimiento con varios cambiadores automáticos de muestras intercambiables. Estas características permiten al NEX DE VS ofrecer resultados analíticos de la máxima precisión en los tiempos de medición más cortos posibles. Además, NEX DE VS incorpora el software ^QuantEZ®, diseñado para maximizar el tiempo de sus usuarios. El control intuitivo del instrumento, la sencilla navegación por los menús y la interfaz EZ Analysis simplifican las operaciones rutinarias y permiten a los operadores crear nuevas aplicaciones mediante un sencillo asistente de barra de flujo.

Para las necesidades de análisis de puntos pequeños, NEX DE VS cuenta con una cámara de alta resolución y colimadores automatizados que permiten un posicionamiento preciso de las muestras para analizar puntos de 1 mm, 3 mm y 10 mm de tamaño. La gran cámara de muestras del instrumento admite muestras de hasta 30 cm de diámetro y 10 cm de altura, y la interfaz de análisis de puntos y la cámara retroiluminada integrada permiten posicionar fácilmente las muestras para realizar mediciones de puntos pequeños. NEX DE VS es un sistema excelente para medir revestimientos en piezas pequeñas, analizar muestras pequeñas para iniciativas de residuos electrónicos o investigar la identificación de cuerpos extraños de composición desconocida.

Ya sea en la planta de producción o en un laboratorio de control de calidad, NEX DE VS ofrece un rendimiento inigualable para el análisis a granel y de puntos pequeños. La potencia analítica superior, la flexibilidad y la facilidad de uso se suman a su amplio atractivo para una gama de aplicaciones en constante expansión, incluido el control de calidad (CC) básico o sus variantes más sofisticadas, como el control de calidad analítico (CCA), el aseguramiento de la calidad (AC) o el control estadístico de procesos como Six Sigma.