Verificado

Difractómetro de electrones:

XtaLAB Synergy-ED

El primer difractómetro de electrones del mundo dedicado a la investigación de MicroED

Rigaku Europe SE

  •     Fácil de utilizar: No requiere experiencia en microscopía.
  •     Determinación directa de la estructura 3D: Cristales submicrónicos.
  •     Totalmente integrado: Control, screening, adquisición de datos en CrysAlisPro.
  •     Detector avanzado: HyPix-ED, sin fondo.
  •     Haces de electrones estables: fuente de electrones de 200 kV y sistema de zoom.
  •     Entornos versátiles: Criotransferencia, calentamiento, célula de gas.

El XtaLAB Synergy-ED es el primer difractómetro del mundo dedicado para 3D ED/MicroED y la exitosa culminación de un proyecto de desarrollo conjunto entre Rigaku y JEOL. 3D ED/MicroED permite a los cristalógrafos sondear la estructura de cristales tan pequeños como decenas de nanómetros, abriendo muchas nuevas posibilidades más allá de las limitaciones de la difracción de rayos X monocristalina (SC-XRD), que normalmente requiere muestras mayores de 1 µm. Con 3D ED/MicroED muchas más muestras se convierten en objetivos viables para la investigación estructural. Estructuras difíciles que antes requerían la combinación de múltiples técnicas y, por lo tanto, periodos de tiempo significativos para reunir pruebas de la estructura, ahora se pueden dilucidar en cuestión de minutos.

El diseño compacto del XtaLAB Synergy-ED permite ubicarlo en los laboratorios junto a los instrumentos SC-XRD, añadiendo una excelente técnica complementaria a todas las instalaciones cristalográficas. Los cristalógrafos familiarizados con los difractómetros Rigaku que funcionan con CrysAlisPro podrán adaptarse al instrumento muy rápidamente, ya que se basa en la misma plataforma intuitiva. El sistema totalmente integrado incorpora un flujo de trabajo sin fisuras desde la recogida de datos hasta la determinación de estructuras moleculares tridimensionales. AutoChem, que está totalmente integrado en CrysAlisPro, realiza la solución y el refinamiento de estructuras de forma rápida y totalmente automatizada durante la recogida de datos, optimizando su productividad.

Nota: Este artículo ha sido traducido automáticamente. LUMITOS ofrece este servicio para que la información del producto esté disponible en más idiomas. Como este artículo se ha creado automáticamente, es posible que haya errores y desviaciones respecto al original. La presentación original en Inglés puede encontrarse aquí.

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