Simultix 15

El Rigaku Simultix 15 combina la resolución de análisis elemental de un WDXRF con la velocidad analítica de un EDXRF, lo que lo hace ideal para operaciones en las que se procesa un gran número de muestras sólidas, en polvo o líquidas, por ejemplo, en industrias como las del cemento, el acero y el procesamiento de minerales. Con todos los canales escaneados simultáneamente, el Simultix 15 es la solución óptima en cuanto a tiempo de obtención de resultados, precisión, fiabilidad, bajo coste por análisis y longevidad del instrumento.

También incorpora la exclusiva configuración óptica tubo-sobre tubo de Rigaku, que evita que los contaminantes caigan sobre el tubo o el detector, garantizando los resultados más precisos posibles.

Características principales

• Rango elemental - Be a U
• Fuente de alta potencia - 4 kW (o 3 kW opcional)
• Análisis rápido - Escanea todos los canales simultáneamente
• Configuración óptica tubo-sobre-tubo
• Hasta 40 canales fijos - 30 canales fijos de serie ampliables opcionalmente a 40
• Automatización: la unidad de carga de muestras opcional proporciona alimentación por cinta desde sistemas de automatización de preparación de muestras de otros fabricantes.
• Multicapas sintéticas, SERIE RX - Los nuevos cristales multicapas sintéticos RX85 producen aproximadamente un 30% más de intensidad que las multicapas existentes para Be-Kα y B-Kα.
• Canal XRD - Permite el análisis cuantitativo por XRF y XRD.
• Cristales doblemente curvados - La aplicación de esta opción aumenta la intensidad de la señal en comparación con los cristales curvados simples.
• Software mejorado fácil de usar - Mejora la operatividad del ajuste de condiciones cuantitativas adoptando la misma barra de flujo de análisis cuantitativo utilizada en el software ZSX.
• Goniómetro de barrido pesado y ligero - El goniómetro opcional de amplio rango elemental admite semicuántica sin estándar (FP) y puede utilizarse para la determinación cualitativa o cuantitativa de elementos no rutinarios.
• Control automático de la presión (APC) - Mantiene un nivel de vacío constante en la cámara óptica, lo que mejora notablemente la precisión del análisis de elementos ligeros.
• Método de relación de dispersión cuantitativa - Cuando se utiliza esta opción junto con el método de relación de dispersión Compton, para el análisis de minerales y concentrados, se pueden generar alfas teóricas para la calibración de la relación de dispersión.
  

Análisis XRF rápido y preciso

Adecuado para el análisis de Be a U en casi cualquier matriz de muestra, el Simultix 15 escanea hasta 30 canales de elementos (y opcionalmente hasta 40) simultáneamente, alimentado por una fuente de 4 kW (o 3 kW opcional) para máxima velocidad y sensibilidad. Junto con una interfaz de software intuitiva y fácil de usar que agiliza las mediciones y el análisis, se convierte en su socio ideal para el análisis elemental de alto rendimiento.

A diferencia de la mayoría de los instrumentos WDXRF, que escanean secuencialmente, Simultix 15 escanea cada canal fijo discreto y optimizado de forma simultánea, lo que se traduce en análisis significativamente más rápidos. El sistema puede configurarse para su conjunto específico de elementos de interés.

Cambiador automático de muestras

Para obtener lo último en análisis XRF de alto rendimiento, Simultix 15 puede equiparse con un cambiador automático de muestras (ASC) de 48 posiciones. Puede configurarse con un alimentador de cinta a la derecha o a la izquierda, alimentado por un sistema automatizado de preparación de muestras de terceros.

Flexibilidad

Para obtener la máxima flexibilidad, Simultix 15 puede equiparse con un goniómetro de barrido para medir otros elementos, así como con DRX para el análisis de fases.