Gran experiencia en pequeñas partículas - jornadas de expertos en caracterización de partículas en el LUM Francia
Los días 24 y 25 de junio, LUM Francia y LUM GmbH organizan las jornadas de expertos en caracterización de partículas en la sede de LUM Francia en Plaisir (París). Los clientes de Francia están cordialmente invitados a recibir formación teórica sobre los dispositivos de medición de LUM GmbH y a convencerse de las ventajas midiendo sus propias muestras. En esta ocasión, la atención se centra en el LUMiSpoc®.
El LUMiSpoc® es un sistema avanzado de análisis de una sola partícula, similar a un citómetro de flujo, que mide la distribución del tamaño de partícula y la concentración de partículas de nano y micropartículas en suspensiones y emulsiones con una resolución y un rango dinámico sin precedentes. El instrumento utiliza la tecnología patentada SPLS Technology®, que registra la luz dispersada por nano y micropartículas individuales en las direcciones frontal y lateral mientras transmite un haz láser con una sección transversal específica. Proporciona una visión profunda de los complejos sistemas de nanopartículas y submicropartículas que puede utilizarse para diseñar partículas y dispersiones a medida.
Los expertos Elia Wollik y Sylvain Gressier impartirán conferencias in situ. Elia Wollik es especialista principal de productos en LUM GmbH, especializada en análisis de nanopartículas y técnicas de medición óptica. Su trabajo se centra en el desarrollo y la optimización de instrumentos analíticos, la identificación de nuevas áreas de aplicación y el apoyo a colaboraciones en investigación y desarrollo, así como en análisis de muestras específicas de clientes. Participó activamente en el desarrollo y lanzamiento al mercado del LUMiSpoc®. Elia Wollik tiene un máster en tecnología farmacéutica y química con especialización en análisis de partículas y dispersión de luz.
Sylvain Gressier, licenciado en genética humana por la Universidad de Evry Val d'Essonne, y posteriormente representante sobre el terreno y director durante muchos años de la filial francesa de LUM GmbH, cuenta con 13 años de experiencia práctica y teórica sin parangón en el uso de dispositivos de medición LUM para la caracterización de micropartículas y nanopartículas en Francia, para pruebas directas de estabilidad acelerada de dispersiones y emulsiones y para pruebas de materiales. Colaborando con empresas industriales y participando en simposios y conferencias científicas y académicas internacionales, ajusta las necesidades de los usuarios a las soluciones técnicas y comerciales actuales y futuras de LUM. En el 14º Congreso Mundial de Filtración (WFC 14) que se celebrará en Burdeos del 30 de junio al 4 de julio, Sylvain Gressier impartirá una conferencia sobre el tema: Eficacia de la filtración controlada mediante el recuento y el dimensionamiento de partículas utilizando Single Particle Light Scattering Technology® (SPLS).
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