ZSX Primus IV

El espectrómetro XRF ZSX Primus IV es un instrumento WDXRF secuencial de alta potencia (4 kW) que combina un alto rendimiento con una sensibilidad y resolución para elementos ligeros líderes en el sector.

La configuración óptica exclusiva de Rigaku, con el tubo situado en la parte superior, elimina prácticamente cualquier posibilidad de que se depositen residuos en la fuente de rayos X o en el detector. Esto garantiza la precisión de las mediciones y evita el mantenimiento no deseado, lo que lo convierte en la opción ideal para polvos prensados y líquidos.

El ZSX Primus IV es ideal para las aplicaciones de análisis químico industrial y académico más exigentes, como, por ejemplo, minería y minerales, cemento, aleaciones, líquidos, metales chapados, etc.

Características principales

• Alto rendimiento con doble posición de carga: ideal para aplicaciones industriales
• Fuente de rayos X de alta potencia (4 kW) con una excelente estabilidad a largo plazo
• El tubo situado por encima de la óptica minimiza los problemas de contaminación
• WDXRF de suelo, compacto y ligero
• Sensibilidad superior a los elementos ligeros
• Análisis puntual y de mapeo
• Compensación automática de las irregularidades en la superficie de la muestra
• Utiliza las tecnologías más innovadoras de cristales de análisis curvos para obtener las intensidades más altas
• Software intuitivo ZSX Guidance
•  Disponibilidad de purga con He y_N₂para el análisis de líquidos y polvos sueltos

Análisis de alto rendimiento y manipulación automatizada de muestras

El sistema se ha optimizado para el análisis automatizado de alta velocidad, lo que lo hace ideal para aplicaciones industriales que requieren tiempos de respuesta rápidos. Los diseños mecánicos y electrónicos mejorados han dado lugar a una reducción del tiempo muerto y a un mayor rendimiento de muestras. El aumento de la velocidad de procesamiento también se ve favorecido por un sistema de analizador digital multicanal (D-MCA) que proporciona un procesamiento de alta velocidad para altas tasas de recuento, lo que se traduce en una mayor precisión analítica.

Rendimiento en elementos ligeros
El Rigaku ZSX Primus IV también ofrece unos límites de detección de elementos ligeros excepcionales gracias a una ventana de bario (Be) de 30 µm en el tubo de rayos X —la más fina disponible en el mercado— y a cristales analizadores especialmente desarrollados, con valores 2d específicos, para captar las longitudes de onda de los elementos ligeros

En el caso de los elementos ultraligeros (Be – O) y los elementos ligeros con emisiones de rayos X de baja energía (F – Al), el grado de vacío influye considerablemente en la intensidad de los rayos X. El sistema APC (control automático de presión) permite mantener condiciones de vacío estables y facilita la obtención de intensidades de rayos X reproducibles para estos elementos.

Análisis más consistentes

También cuenta con el sistema óptico de Rigaku, que suprime las variaciones de señal producidas por cambios en la distancia entre la muestra y el detector debido a superficies irregulares, etc.

Mapeo puntual

El ZSX Primus IV también permite realizar mapeo puntual. Mediante una cámara de alta resolución, se puede ampliar fácilmente una característica específica de interés y llevar a cabo un análisis químico, lo cual resulta ideal para muestras no homogéneas, como minerales o inclusiones en aleaciones.

Software SQX mejorado

Gracias a las continuas mejoras, el análisis SQX de Rigaku es cada vez más fácil de usar. Se trata de un método de gran precisión para determinar la composición elemental de la muestra basado en el análisis FP sin patrón.

Software ZSX Guidance

ZSX Guidance le ayuda en todos los aspectos de la medición por XRF y el análisis de datos. Común a todos los espectrómetros WDXRF de Rigaku, ZSX Guidance pone incluso las mediciones y análisis más complejos al alcance de cualquier usuario, al tiempo que facilita todas sus mediciones rutinarias y programadas.