Un nuevo sistema de caracterización simplifica los ensayos de películas finas con un software automatizado
Fraunhofer IPMS colabora con dos startups para desarrollar portamuestras para electrónica orgánica y sensores de gas
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El Instituto Fraunhofer de Microsistemas Fotónicos IPMS ha puesto en marcha el proyecto SMut, financiado con fondos públicos, en colaboración con sus socios Credoxys y SweepMe! para desarrollar un innovador sistema de medición para la caracterización precisa de películas finas. Este sistema permitirá realizar experimentos en condiciones variables, estableciendo nuevos estándares en la caracterización de materiales orgánicos.
Fraunhofer IPMS presentó recientemente nuevos chips y adaptadores de medida para caracterizar películas finas de materiales utilizados en electrónica orgánica y sensores de gas. Partiendo de esta base, se ha puesto en marcha el proyecto SMut, financiado con fondos públicos, en el que Fraunhofer IPMS y sus socios Credoxys y SweepMe! aúnan sus conocimientos para desarrollar un novedoso sistema de medición.
Este innovador sistema constará de una estación base y múltiples portamuestras que podrán cargarse con muestras de investigación en una guantera. Esto permitirá realizar diversos experimentos eléctricos y fotoeléctricos bajo diferentes gases, presiones y temperaturas. "El portamuestras debe ser fácil de manejar en una guantera, extraíble bajo gas protector y capaz de realizar mediciones a largo plazo durante varias semanas", explica el Dr. Alexander Graf, director del proyecto en Fraunhofer IPMS.
Gracias al desarrollo del software SweepMe!, ahora es posible configurar intuitivamente casi cualquier dispositivo y rutina de medición. ¡"La solución de software de este proyecto permitirá disponer por primera vez de una plataforma de caracterización intuitiva y lista para usar", afirma el Dr. Axel Fischer, director general de SweepMe! GmbH, resumiendo los objetivos del proyecto.
El Dr. Jörn Vahland, desarrollador de materiales de Credoxys GmbH, está entusiasmado con las nuevas posibilidades que ofrecerá el sistema de medición. "El esfuerzo que dedicamos actualmente a caracterizar nuestros materiales OLED es enorme. En la actualidad, las mediciones a largo plazo en condiciones de atmósfera y temperatura controladas son especialmente difíciles. Este sistema llevará la caracterización de películas finas a un nivel completamente nuevo. La reproducibilidad y la capacidad de medición son sensacionales".
El concepto básico y el diseño fundamental del sistema se presentarán a los visitantes interesados en el stand de Fraunhofer IPMS en Analytica, que se encuentra en el pabellón A3¬#312.
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